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이용수
요 약
Abstract
Ⅰ. 서 론
Ⅱ. 실 험
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결 론
참 고 문 헌
저 자 소 개
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Nano CMOS를 위한 Ni-silicide의 source/drain의 As, BF₂에 따른 영향분석
대한전자공학회 학술대회
2002 .11
CMOS소자를 위한 Ni Silicide의 Dopant에 따른 영향분석
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
Si 기판에 주입된 BF2불순물이 Ti Silicides 형성에 미치는 영향 ( Effects of Implanted BF2 on the Formation of Ti-Silicides )
전자공학회논문지
1990 .12
코발트/니켈 복합실리사이드의 실리사이드온도에 따른 면저항과 미세구조 변화
한국재료학회지
2004 .01
루테늄 첨가에 의한 니켈모노실리사이드의 안정화
한국재료학회 학술발표대회
2007 .01
100㎚ 이하의 CMOS 소자를 위한 Ni Silicide Technology
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
나노급 CMOSFET을 위한 SOI기판에 도핑된 B11을 이용한니켈-실리사이드의 열안정성 개선
전기전자재료학회논문지
2006 .01
나노급 CMOSFET을 위한 니켈-코발트 합금을 이용한니켈-실리사이드의 열안정성 개선
전기전자재료학회논문지
2008 .01
다결정 실리콘 기판 위에 형성된 나노급 니켈 코발트 복합살리사이드의 미세구조 분석
한국산학기술학회 논문지
2007 .04
Cobalt Interlayer 와 TiN capping를 갖는 새로운 구조의 Ni-Silicide 및 Nano CMOS에의 응용
전자공학회논문지-SD
2003 .12
폴리실리콘 기판 위에 형성된 코발트 니켈 복합실리사이드 박막의 열처리 온도에 따른 물성과 미세구조변화
한국재료학회지
2006 .01
Study of Thermal Stability of Ni Silicide using Ni-V Alloy
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2008 .01
나노급 CMOSFET을 위한 Boron Cluster(B18H22)가 이온 주입된(SOI 및 Bulk)기판에 Ni-V합금을 이용한 Ni-silicide의열안정성 개선
전기전자재료학회논문지
2007 .01
Composite Target으로 중착된 Mo-Silicide의 형성 및 이에 따른 불순물의 거동 ( Behavior of the Implanted Dopants and Formation of Molybdenum Silicide by Composite Sputtering )
대한전자공학회 학술대회
1992 .01
나노급 다결정 실리콘 기판 위에 형성된 니켈실리사이드의 물성과 미세구조
한국산학기술학회 논문지
2008 .02
코발트/니켈 적층구조 박막으로부터 형성된 복합실리사이드
한국재료학회지
2004 .01
TiN/TiSi₂ 경합반응과 불순물 재분포 특성에 대한 기판 실리콘에 주입된 BF₂ 불순물 농도의 영향
전기학회논문지
1993 .06
Poly-Si에 이온 지입된 dopants가 Ti-Silicides 형성에 미치는 영향 ( Effects of dopants introduced into the poly-Si on the formation of Ti-Silicides )
대한전자공학회 학술대회
1989 .07
니켈 코발트 합금조성에 따른 복합실리사이드의 물성 연구
한국재료학회지
2007 .01
Ti-실리사이드 형성에 관한 연구 ( A Study on the Ti-Silicide Formation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .07
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