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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국센서학회 센서학회지 센서학회지 제16권 제6호
발행연도
2007.1
수록면
419 - 427 (9page)

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Single crystal ZnIn2S4 layers were grown on a oC withthe hot wall epitaxy (HWE) system by evaporating the polycrystal source of ZnIn2S4 at 610oC prepared from horizontalelectric furnace. The crystalline structure of the single crystal thin films was investigated by the photoluminescence anddouble crystal X-ray difraction (DCXD). The carrier density and mobility of single crystal ZnIn2S4 thin films measuredwith Hall effect by van der Pauw method are 8.51×1017 electron/cm3, 291 cm2/v-s at 293 K, respectively. The photocurrentand the absorption spectra of ZnIn2S4 /SI(Semi-Insulated) GaAs(100) are measured ranging from 293 K to 10 K. Thetemperature dependence of the energy band gap of the ZnIn2S4 obtained from the absorption spectra was well describedby the Varshni's relation, Eg(T)=2.9514 eV(7.24×104 eV/K)T2/(T+489 K). Using the photocurrent spectra and theHopfield quasicubic model, the crystal field energy(cr) and the spin-orbit spliting energy(so) for the valence band ofthe ZnIn2S4 have been estimated to be 167.8 meV and 14.8 meV at 10 K, respectively. The thre photocurrent peaksobserved at 10 K are ascribed to the A1-, B1-, and C41-exciton peaks.

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