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학술저널
저자정보
이재석 (고려대학교 재료공학과) 진정근 (고려대학교 재료공학과) 변동진 (고려대학교 재료공학과) 이재상 (한국원자력 연구소) 이재형 (한국원자력 연구소) 고의관 (기초과학지원연구원 서울분소)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제14권 제7호
발행연도
2004.1
수록면
494 - 499 (6page)

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The structural, electrical and optical properties of GaN epilayers grown on various ion-implanted sapphire(0001) substrates by MOCVD were investigated. Sapphire substrates have been widely adopted to grow high quality GaN epilayer despite the large differences of lattice constant and thermal expansion coefficient between them. So, GaN or AlN buffer layer and pre-treatment was indispensably introduced before the GaN epilayer growth. The ion-implanted substrate's surface had decreased internal free energies during the growth of the ions implanted sapphire(0001) substrates. The crystal and optical properties of GaN epilayers grown in ions implanted sapphire(0001) substrate were improved. Also, excessively roughened and modified surface by ions degraded the GaN epilyers. Not only the ionic radius but also the chemical species of implanted sapphire(0001) substrates could improve the properties of GaN epilayers grown by MOCVD. This result implies that higher quality of GaN epilayers was achieved by using ion-implanted sapphire(0001) substrate with various ions.

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