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Kim, Dong-Chan (Dept. of Metall. Eng., Seoul National University) Kim, Byung-Yoon (Dept. of Metall. Eng., Seoul National University) Kim, Young-Soung (Dept. of Metall. Eng., Seoul National University) Joo, Seung-Ki (Dept. of Metall. Eng., Seoul National University)
저널정보
한국재료학회 Fabrication and Characterization of Advanced Materials Fabrication and Characterization of Advanced Materials 제2권 제2호
발행연도
1995.1
수록면
895 - 898 (4page)

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A thin film of Aluminum for ultra large scale integrated circuits(ULSI) metallization has been formed by PECVD using DMEAA(Dimethylethylamine alane) as a precursor. It was found that the Al film could be deposited on Si$O_2$ substrate when the hydrogen plasma was utilized for pyrolysis of DMEAA. Comparing to thermal CVD, reflectivity as well as the resistance was much better in PECVD Al film on Si$O_2$. Conformal step coverage turned out to be excellent when the PECVD Al film was deposited on the submicron contact holes.

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