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논문 기본 정보

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학술저널
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저널정보
한국마이크로전자및패키징학회 마이크로전자 및 패키징학회지 마이크로전자 및 패키징학회지 제17권 제1호
발행연도
2010.1
수록면
25 - 31 (7page)

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본 연구에서는 무연 솔더 중 우수한 특성을 보여 실용화된 Sn-3.0Ag-0.5Cu 조성의 솔더를 사용하여 2주 동안의 시효조건에서 W의 함량이 무전해 Ni-W-P 도금층과 솔더와의 계면에서의 IMC 생성에 미치는 영향에 대해서 조사하였다. 도금층내 인의 함량은 8 wt.%로 고정하였고, 텅스텐의 함량은 각각 0, 3, 6 및 9 wt.%로 변화시켰으며, 모든 시료는255oC에서 리플로우한 후, 200oC에서 2주 동안 시효처리하였다. 각각의 시료에서 (Cu,Ni)6Sn5와 (Ni,Cu)3Sn4의 IMC가관찰되었으며, 시효처리시간의 증가에 따라 UBM과 무연납의 계면에서 생성된 IMC가 증가함을 보였고, W의 함량이 높을수록 열적 안정성이 증가하여 Ni(W)3P의 생성 속도를 늦춰 그에 따른 영향으로 IMC의 두께가 증가함을 보였다.

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