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학술저널
저자정보
Ahn, Jin-ho (Department of Materials Engineering, Hanyang University) Kwong, Dim-Lee (Microelectronics Research Center, Department of Electrical and Computer Engineering The University of Texas at Austin)
저널정보
한국재료학회 Fabrication and Characterization of Advanced Materials Fabrication and Characterization of Advanced Materials 제2권 제3호
발행연도
1995.1
수록면
957 - 962 (6page)

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This paper reports the performance and reliability of both n-and p-channel MOSFETs with ultrathin$(65^{\circ}C)$ LPCVD gate oxides annealed in $N_2$ ambinet as compared to MOSFETs with thermal gate oxides. It is shown than n-and p-MOSFETs with CVD gate oxides ahve better initial device performance ($higher\;g_m$, current dirivability, and effective electron and hole mobilities) and enhanced device reiability(${\Delta}g_{m}$, ${\Delta}V_{th}$ and stress-induced GIDL enhancement) than the MOSFETs with thermal gate oxides. Furthemore, signigicantly improved time-dependent dielectric breakdown characteristics of CVD gate oxide has been demonstrated. Strainless CVD $SiO_2$ after proper post-deposition annealing and the film formation mechanism(deposited-on rather than grown from the substrate) are speculated to results in the improvements in performance and reliability of CVD oxide devices.

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