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한국결정성장학회 한국결정성장학회지 한국결정성장학회지 제14권 제4호
발행연도
2004.1
수록면
140 - 144 (5page)

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Hot-wall epitaxy법으로 GaAs 기판 위에 성장시킨 CdTe 박막은 (111) 면의 단결정 박막으로 성장되었음을 XRD 측정으로부터 확인하였으며, 박막 성장률은 SEM 측정 사진으로부터 30 Å/s임을 알았다. PL 측정으로 얻은 최적성장조건 은 원료물질 온도 500oC, 기판 온도 320oC이었다.

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