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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술발표회 논문집 (반도체/재료부품/CAD/VLSI) 제4권 1호
발행연도
1985.1
수록면
58 - 60 (3page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

1986

실리콘에서의 2차원적 불순물의 분포의 산출 ( Characterization of Two-Dimensional Impurity Profile in Silicon )
양영일 ,  경종민 전자공학회논문지 1986.11 학술저널

1985

반도체 내에서의 2차원 불순물 분포를 얻기 위한 수치해법의 비교 ( Comparison of Numerical Methods for Obtaining 2-D Impurity Profile in Semiconductor )
양영일 ,  경종민 ,  오형철 전자공학회지 1985.05 학술저널
실리콘에서의 불순물 분포의 산출 ( Characterization of Impurity Profile in Silicon )
양영일 ,  경종민 대한전자공학회 학술대회 1985.01 학술대회자료

1984

수치해석 프로그램을 이용한 실리콘 내에서의 불순물 분포의 산출 ( Characterization of Impurity Profile in Silicon using Iterative Parabolic Solver )
양영일 ,  오형철 ,  경종민 대한전자공학회 학술대회 1984.01 학술대회자료

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