반도체 내에서의 2차원 불순물 분포를 얻기 위한 수치해법의 비교 ( Comparison of Numerical Methods for Obtaining 2-D Impurity Profile in Semiconductor )

양영일; 경종민; 오형철

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자료유형: 학술저널

저자정보: 양영일 경종민 오형철

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회지 전자공학회지 제22권 제3호

발행연도: 1985.5

수록면: 95 - 102 (8page)

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1986

실리콘에서의 2차원적 불순물의 분포의 산출 ( Characterization of Two-Dimensional Impurity Profile in Silicon )

양영일 , 경종민 전자공학회논문지 1986.11 학술저널

1985

반도체 내에서의 2차원 불순물 분포를 얻기 위한 수치해법의 비교 ( Comparison of Numerical Methods for Obtaining 2-D Impurity Profile in Semiconductor )

양영일 , 경종민 , 오형철 전자공학회지 1985.05 학술저널

실리콘에서의 불순물 분포의 산출 ( Characterization of Impurity Profile in Silicon )

양영일 , 경종민 대한전자공학회 학술대회 1985.01 학술대회자료

1984

수치해석 프로그램을 이용한 실리콘 내에서의 불순물 분포의 산출 ( Characterization of Impurity Profile in Silicon using Iterative Parabolic Solver )

양영일 , 오형철 , 경종민 대한전자공학회 학술대회 1984.01 학술대회자료

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경종민

소속기관 대한전자공학회

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학 TOP 10% 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학

논문수 133 이용수 3,385

오형철

소속기관 고려대학교

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학

논문수 51 이용수 1,258

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