δ 도핑된 Si_0.8Ge_0.2 0.13㎛ pMOSFET 소자 특성 조사

오순영 ,  남령진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

전자소자의 과도방사선피해 평가체계 구축 연구

이남호 ,  황영관 ,  김종열 외 2명

한국정보통신학회논문지

2012 .10

즉발방사선에 따른 CMOS소자의 Upset/Latchup 특성에 관한 연구

오승찬 ,  이현진 ,  이남호 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2010 .07

0.1㎛ 레벨 PMOSFET의 소자 열화에 관한 연구 ( A Study on the Device Degradation with 0.1㎛ level PMOSFET )

홍성희 ,  이용수

한국통신학회논문지

1998 .11

MOS 구조시뮬레이션과 공정시험을 통한 pMOSFET 이온화 방사선 측정용 센서의 감도개선 연구

이남호 ,  이현진 ,  황영관 외 1명

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2007 .12

시뮬레이션 기법을 이용한 핵폭발환경에서의 반도체소자의 광전류 특성 분석

오승찬 ,  정상훈 ,  황영관 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2013 .07

δ 도핑된 Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFET 소자 특성 조사 ( Characterization of δ- Doped Si0.8.Ge0.2 0.13μm PMOSFETs )

오순영 ,  남형진 ,  조남인

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( II ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( II ) ) ( A Lifetime Prediction Modeling Using Gate Current for PMOSFET )

정우표 ,  류동렬 ,  양광선 외 2명

전자공학회논문지-A

1993 .09

Hot-Carrier로 인한 PMOSFET의 소자 수명시간 예측 모델링 ( I ) ( A Lifetime Prediction Modeling for PMOSFET degraded by Hot-Carrier ( I ) )

정우표 ,  류동렬 ,  양광선 외 2명

전자공학회논문지-A

1993 .08

게이트 전류를 이용한 SC-PMOSFET의 수명 시간 모델링 ( A Lifetime Modeling Using Gate Current for Surface-Channel PMOSFET`S )

정우표 ,  유동열 ,  양광선 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

진행파형 광 검출기의 비선형성

문연태 ,  윤영설 ,  최영완

한국정보통신설비학회 학술대회

2004 .01

유기 초박막의 광전류 특성

조수영 ,  오재한 ,  김성진 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

Fabrication of 0.1mm Surface Channel pMOSFET

이영택 ,  유태종 ,  박병국 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

DC and RF Characteristics of Si_0.8Ge_0.2 pMOSFETs: Enhanced Operation Speed and Low 1/f Noise

Young-Joo Song ,  Kyu-Hwan Shim ,  Jin-Young Kang 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2003 .06

Gd-pMOSFET 열중성자 측정기 구현 및 감도개선

이남호 ,  김승호

대한전기학회 학술대회 논문집

2005 .10

고온에서 PD-SOI PMOSFET의 소자열화

박원섭 ,  박장우 ,  윤 세레나 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

0.1 μm 표면 채널 GR - Pmosfet 의 스케일링에 관한 연구 ( A Study on the Scale - Down of 0.1μm Surface - Channel GR - Pmosfet )

허연철 ,  이우형 ,  박병국 외 2명

전자공학회논문지-A

1994 .11

SC-PMOSFET 의 수평 전계 모델과 노쇠화 메커니즘 ( Lateral Electric Field Model and Degradation Mechanism of Surface-Channel PMOSFET`s )

양광선 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .01

광전류센서의 센싱부 온도특성에 관한 연구

박정환 ,  김영민 ,  지승욱 외 2명

한국조명·전기설비학회 학술대회논문집

2007 .05

PMOS 트랜지스터의 ESD 손상 분석

이경수 ,  정고은 ,  권기원 외 1명

전자공학회논문지-SD

2010 .02