M&S 기반 반도체소자의 펄스감마선 피해평가 시스템 구축 연구

이남호; 이승민

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자료유형: 학술저널

저자정보: 이남호 (한국원자력연구원) 이승민 (충남대학교)

저널정보: 대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제62권 제7호

발행연도: 2013.7

수록면: 969 - 973 (5page)

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2013

M&S 기반 반도체소자의 펄스감마선 피해평가 시스템 연구

이남호 , 정상훈 , 오승찬 외 2명 대한전기학회 학술대회 논문집 2013.07 학술대회자료

M&S 기반 반도체소자의 펄스감마선 피해평가 시스템 구축 연구

이남호 , 이승민 전기학회논문지 2013.07 학술저널

2012

모델링 및 실측에 기반한 펄스형 감마선의 반도체 영향 연구

이남호 , 오승찬 , 황영관 외 2명 정보 및 제어 논문집 2012.10 학술대회자료

2010

반도체 소자의 과도펄스감마선 영향 모델링 및 시뮬레이션

이남호 , 이승민 전기학회논문지 2010.09 학술저널

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To simulate the effect of high dose-rate radiation on semiconductor devices, device modeling work has been performed especially in the area of photo-current generation by a PIN diode. The resultant analytical values were compared with experimental ones that were specially designed and performed to benchmark the simulation results. Initial results showed 27.85% error between the simulation and the experiment. The error can be further reduced by improvement both in simulation and in related experiments. The developed technique from the study can be applicable to radiation dosimetry and to analysis on the radiation effects in electronics.

#Pulse radiation #Damage effect #Assessment system #Analysis model #Gamma-radiation #Dose rate

참고문헌 (12)

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1. [학술지(정기간행물)] - George C. Messenger / 1986 / Transient Radiation Effects on Electronics / IEEE Trans. Nuclear Science 33 (5) : 1125 ~

2. [학술지(정기간행물)] - Mohamed N. Darwish / 1988 / Radiation Effects on Power Integrated Circuits / IEEE Trans. Nuclear Science 35 (6) : 1547 ~ 1551

3. [학술지(정기간행물)] - Chugg, A. M. / 1994 / Ionizing Radiation effects: a vital issue for semiconductor electronics / Engineering Science and Education Journal 3 (3) : 123 ~ 130

4. [학술지(정기간행물)] - 정상훈 / 2012 / 과도방사선에 의한 CMOS 소자 Latch-up 모델 연구 / 전기학회논문지 61 (3) : 422 ~ 426

5. [인터넷자원] - / / http://www.nasa.gov/

이 논문의 저자 정보

이남호

소속기관 한국원자력연구원

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

논문수 106 이용수 4,504

이승민

소속기관 충남대학교

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학

논문수 56 이용수 2,496

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과도방사선 검출을 위한 핵폭발 검출기 제작 및 검증

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