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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2021.6
- 수록면
- 141 - 144 (4page)
이용수
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2022
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We present a modeling of program/erase characteristics in charge trap flash memory cells, and simulate program/erase characteristics of charge trap flash cells. The presented model is based on the product of mobility and lifetime that represent drift transport in charge trap dielectric. Charge detrapping is assumed to follow Poole-Frenkel formalism, which introduced trap energy extraction from erase characteristics.
목차
Abstract
I. 서론
II. 모델링 방법 및 결과
Ⅲ. 결론
참고문헌
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