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저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2007년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2007.11
수록면
445 - 446 (2page)

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Trapping storage node in SONOS flash memory plays an important role in practical program characteristics in SONOS flash memory devices. In this study, program characteristics are examined with the thickness of silicon nitride as trapping s ... 전체 초록 보기

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