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학술대회자료
저자정보
Mi, Zhang (Beijing BOE Optoelectronics Technology CO., LTD., Graduate University of the Chinese Academy of Sciences, Student Member, IEEE) Jian, Guo (Beijing BOE Optoelectronics Technology CO., LTD.) Chunping, Long (Beijing BOE Optoelectronics Technology CO., LTD.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
발행연도
2007.1
수록면
1,597 - 1,599 (3page)

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In TFT-LCD, mura is a defect which degrades the display quality. The resistance difference between gate lines is the main cause of H-Block mura. Two methods could eliminate this defect. A thinner gate layer or gate fan-out pattern decrease mura level. H-Block mura has been reduced after implementing the new schemes.

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