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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.3
- 수록면
- 529 - 534 (6page)
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이 논문에서는 TFT-LCD의 제조공정에서 생기는 결함(Mura)을 효율적으로 검출할 수 있는 새로운 전기적인 검출방식을 제안한다. TFT-LCD의 결함은 영역을 갖고 있으므로 어느 한 라인에서는 sin 파의 모양으로 관찰된다. 따라서 FFT 변환을 통하여 문턱치와 비교하면 쉽게 결함이 검출될 수 있음을 보였다. 여러 가지 크기의 결함 패턴이 발생한 경우에도 Multi-point FFT 변환을 수행하면 크기가 일치하는 FFT 변환으로 효과적으로 검출됨을 보였다. 따라서 이 논문에서 제안된 알고리즘은 TFT-LCD의 자동 결함 검출 장치에 다양하게 이용될 수 있을 것이다.
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1. [학술지(정기간행물)] - J.H. Oh / 2004 / Line defect detection in TFT-LCD using directional filter bank and adaptive multilevel thresholding / Key Engineering Materials 270 : 233 ~ 237
2. [학술대회논문] - S. I. Baek / 2004 / Inspection of defect on LCD panel using polynomial approximation / TENCON 2004 : 235 ~ 238
3. [학술대회논문] - G. B. Lee / 2006 / Adative surface fitting for inspection of FPD devicess uing multilevel B-spline approximation / 21st International Technical Conference on Circuits/Systems : 205 ~ 208
4. [학술지(정기간행물)] - J. L. Mannos / 1974 / The effects of a visual fidelity criterion on the encoding of images / IEEE Transactions of Information Theory 20 (4) : 525 ~ 536
5. [학술지(정기간행물)] - A. Gaddipatti / 1997 / Steering image generation with wavelet based perceptual metric / Computer Graphic Forum 16 (3) : 241 ~ 251
2. [학술대회논문] - S. I. Baek / 2004 / Inspection of defect on LCD panel using polynomial approximation / TENCON 2004 : 235 ~ 238
3. [학술대회논문] - G. B. Lee / 2006 / Adative surface fitting for inspection of FPD devicess uing multilevel B-spline approximation / 21st International Technical Conference on Circuits/Systems : 205 ~ 208
4. [학술지(정기간행물)] - J. L. Mannos / 1974 / The effects of a visual fidelity criterion on the encoding of images / IEEE Transactions of Information Theory 20 (4) : 525 ~ 536
5. [학술지(정기간행물)] - A. Gaddipatti / 1997 / Steering image generation with wavelet based perceptual metric / Computer Graphic Forum 16 (3) : 241 ~ 251
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