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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.4
- 수록면
- 1,278 - 1,284 (7page)
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이 논문에서는 TFT-LCD의 제조공정에서 발생하는 mura를 효율적으로 검출하는 multi-point FFT를 기반으로 한, 2차원 FFT를 이용하는 새로운 전기적인 검출 방식을 제안한다. TFT-LCD의 mura 패턴은 어느 일정한 영역을 갖 고 있으므로 어느 한 라인에서 관찰하면 sin 파의 모양으로 관찰된다. Mura의 모양은 원, 가로 타원, 세로 타원으로 분류할 수 있으며 2-D FFT 변환을 통하여 일정한 문턱치와 비교하면 mura를 쉽게 검출할 수 있음을 보인다. 실험영 상의 simulation을 통하여 제안 알고리즘이 다양한 크기의 mura 패턴을 효과적으로 검출할 수 있음을 보였다. 따라서 제안된 알고리즘은 TFT-LCD mura의 자동 검사 시스템에 이용될 수 있을 것이다.
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1. [학술지(정기간행물)] - J.H. Oh / 2004 / Line defect detection in TFT-LCD using directional filter bank and adaptive multilevel thresholding / Key Engineering Materials 270 : 233 ~ 238
2. [학술대회논문] - S.I.Baek, / 2004 / Inspection of defect on LCD panel using polynomial approximation / TENCON 2004, : 235 ~ 238
3. [학술지(정기간행물)] - G. B. Lee / 2006 / Adative surface fitting for inspection of FPD devicess uing multilevel B-spline approximation / 21st International Technical Conference on Circuits/Systems,Computers and Communications 2 : 205 ~ 208
4. [학술지(정기간행물)] - J. L. Mannos / 1974 / The effects of a visual fidelity criterion on the encoding of images / IEEE Transactions of Information Theory 20 (4) : 525 ~ 536
5. [학술지(정기간행물)] - A.Gaddipatti / 1997 / Steering image generation with wavelet based perceptual metric / Computer Graphic Forum, 16 (3) : 241 ~ 251
2. [학술대회논문] - S.I.Baek, / 2004 / Inspection of defect on LCD panel using polynomial approximation / TENCON 2004, : 235 ~ 238
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4. [학술지(정기간행물)] - J. L. Mannos / 1974 / The effects of a visual fidelity criterion on the encoding of images / IEEE Transactions of Information Theory 20 (4) : 525 ~ 536
5. [학술지(정기간행물)] - A.Gaddipatti / 1997 / Steering image generation with wavelet based perceptual metric / Computer Graphic Forum, 16 (3) : 241 ~ 251
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