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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김한진 (상명대학교) 장영범 (상명대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2010년 하계종합학술대회
발행연도
2010.6
수록면
162 - 165 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2010

2-D FFT를 이용한 TFT-LCD 결함 검출 알고리즘
김한진 ,  장영범 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료
2-D FFT를 이용한 TFT-LCD 결함 검출 알고리즘
김한진 ,  장영범 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료

초록· 키워드

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In this paper, we propose a new mura detection algorithm for TFT-LCD effectively, which is based on multi-point, 2-dimensional FFT. Since mura in TFT-LCD has a certain area shape, it is seen as a sin wave in a LCD line. Since shapes of mura can be seen a circle, horizontal oval, or vertical oval, it is shown that they can be detected by 2-dimensional FFT easily. Through simulation for test image, it is shown that proposed algorithm can detect various sizes of mura. The proposed algorithm can be utilized in automatic test equipment for effective TFT-LCD mura detection.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 구현
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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