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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Ye Jian Zhang (호서대학교) Hyonam Joo (호서대학교) Joon Seek Kim (호서대학교)
저널정보
제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 제어로봇시스템학회 논문지 제23권 제6호
발행연도
2017.6
수록면
446 - 454 (9page)
DOI
10.5302/J.ICROS.2017.17.0020

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Many kinds of defects show up during the process of manufacturing display panels. However, mura defects are the most difficult to detect using the conventional image processing algorithms. Many factors cause mura defects to appear in display panels. When images are taken using cameras, mura defects normally show up as relatively dark or bright regions with no definite shape, no clear contours, and very low contrast against their surrounding background. When an imaged mura defect is relatively dark compared to its background, it can be considered a water catchment basin when the whole image is visualized in three dimensions (i.e., is topographically interpreted), and such catchment basins can be detected by watershed algorithms. In this paper, for the accurate segmentation of the mura region, the flooding step of the original watershed algorithm is carefully redesigned to detect the mura defect that exists both inside and at the boundary of an image. The depth of the catchment basins is recorded iteratively and then is used to segment the mura defects. The just noticeable difference (JND) technique is used to quantify the level of the mura defects. It is shown, by extensive experiments, that the proposed algorithm performs well, detecting very low-contrast mura defects, and quickly detects defects located anywhere in the image.
#Immersion simulation #just noticeable difference (JND) #mura #TFT-LCD #watershed

목차

Abstract
I. 서론
Ⅱ. DESCRIPTION OF IMMERSION SIMULATION
Ⅲ. PROPOSED MURADETECTION ALGORITHM
IV. EXPERIMENTAL RESULT
V. 결론
REFERENCES

참고문헌 (25)

참고문헌 신청
[학술대회논문] - A. Rebhi / 2014 / Texture defect detection method based on Himage and Hotteling model T2, In Advanced Technologies for Signal and Image Processing (ATSIP) / 2014 1st International Conference on : 120 ~ 124 google schola [학술대회논문] - C. -C. Cheng / 2013 / Application of the Haar wavelet to mura detection for polarizer / Industrial Technology (ICIT), 2013 IEEE International Conference on : 1080 ~ 1085 google schola [학술지(정기간행물)] - 김상지 / 2006 / 웨이블릿 변환을 이용한 FPD 결함 검출 / Journal of the Korean Society for Industrial and Applied Mathematics 10 (1-1) : 47 ~ 60 dbpia [학술지(정기간행물)] - J. -H. OH / 2007 / Defect Detection of TFT-LCD Image Using Adapted Contrast Sensitivity Function and Wavelet Transform / IEICE Transactions on Electronics 90 (11) : 2131 ~ 2135 google schola [학술지(정기간행물)] - W. -S. Kim / 2004 / Detection of Spot-Type Defects on Liquid Crystal Display Modules / Key Engineering Materials 270-273 : 808 ~ 813 google schola

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