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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제16권 제3호
발행연도
2007.5
수록면
215 - 220 (6page)

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Pt/SBT/Seed/Pt/Ti/SiO₂/Si의 구조로 SBT(SrBi₂Ta₂O?)박막을 Self-seed layer를 사용하여 R.F. Magnetron sputter를 이용하여 증착을 하였다. Self-seed layer는 기판온도 RT(room temperature)와 600℃에서 두께 30 ㎚으로 증착하였다. Self-seed layer의 결정화 온도를 알아보기 위해 열처리온도를 변화시켰고 이를 XRD를 통하여 결정화 유무를 확인하였다. Self-seed layer 위에 증착한 SBT를 XRD와 전기적 측정을 통해 특성을 관찰하였다.

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험방법
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
REFERENCES

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