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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제9권 제4호
발행연도
2000.12
수록면
315 - 320 (6page)

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본 연구에서는 강유전체 박막을 게이트 산화물로 사용한 Pt/Sr_(0.8)Bi_(2.4)Ta₂O_9(SBT)/ZrO₂/Si(MFIS)와 Pt/SBT/Si(MFS) 구조의 결정 구조 및 전기적 성질을 고찰하였다. XRD 및 SEM 측정 결과 SBT/ZrO₂/Si 구조의 경우 SBT/Si 구조에 비해 SBT 박막이 더 큰 결정립이 형성되었다. AES 분석 결과 ZrO₂ 박막을 완충층으로 사용함으로써 SBT 박막과 Si 기판의 상호반응을 적절히 억제할 수 있음을 확인하였다. Pt/SBT/ZrO₂/Pt/SiO₂/Si와 Pt/SBT/Pt/SiO₂/Si 구조에서 Polarization- Voltage(P-V) 특성을 비교해 본 결과 강 ZrO₂ 박막의 도입에 따라 잔류분극값은 감소하였고 항전계값은 증가하였다. MFIS 구조에서 메모리 윈도우값은 항전계값과 직접적 관련이 있으므로 이러한 항전계값의 증가는 MFIS 구조에서의 메모리 윈도값이 증가할 수 있음을 나타낸다. Pt/SBT(210 ㎚)/ZrO₂(28 ㎚)/Si 구조에서 Capacitance-Voltage(C-V) 측정 결과로부터 인가전압 4~6 V에서 메모리 윈도우 가 1~1.5V 정도로 나타났다. Pt/SBT/ZrO₂/Si 구조에서 전극을 갓 증착한 경우와 산소 분위기 800℃에서 후열처리한 경우의 전류 밀도는 각각 약 8×10^(-8)A/㎠와 4×10^(-8)A/㎠ 정도의 값을 나타내었다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 실험 방법

3. 결과 및 고찰

4. 결론

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