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P. R. Sekhar Reddy (Chonbuk National University) V. Janardhanam (Chonbuk National University) I. Jyothi (Chonbuk National University) Shim-Hoon Yuk (Chonbuk National University) V. Rajagopal Reddy (Sri Venkateswara University) Jae-Chan Jeong (Electronics & Telecommunication Research Institute) Sung-Nam Lee (Korea Polytechnic University) Chel-Jong Choi (Chonbuk National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.16 No.5
발행연도
2016.10
수록면
664 - 674 (11page)

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The electrical properties of Ti/p-type InP Schottky diodes with and without polyaniline (PANI) interlayer was investigated using current–voltage (I–V) and capacitance–voltage (C–V) measurements. The barrier height of Ti/p-type InP Schottky diode with PANI interlayer was higher than that of the conventional Ti/p-type InP Schottky diode, implying that the organic interlayer influenced the space-charge region of the Ti/p-type InP Schottky junction. At higher voltages, the current transport was dominated by the trap free space-charge-limited current and trap-filled space-charge-limited current in Ti/p-type InP Schottky diode without and with PANI interlayer, respectively. The domination of trap filled space-charge-limited current in Ti/p-type InP Schottky diode with PANI interlayer could be associated with the traps originated from structural defects prevailing in organic PANI interlayer.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. EXPERIMENT
III. RESULTS AND DISCUSSION
IV. CONCLUSIONS
REFERENCES

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