Hot Carrier 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of Hot Carrier Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 ( The Performance Degradation of CMOS Differential Amplifiers due to Hot Carrier Effects )

박현진 ,  유종근 ,  정운달 외 1명

전자공학회논문지-D

1997 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of hot Electron Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects )

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1998 .08

Hot Carrier에 의한 소자 노쇠화가 Current Mirror에 미치는 영향

윤상영 ,  이동기 ,  박상욱 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

Hot - Carrier 현상에 의한 Folded - Cascode CMOS Op-Amp 의 성능 저하 ( The Performance Degradation of a Folded - Cascode CMOS Op-Amp due to Hot - Carrier Effects )

김현중 ,  유종근 ,  정운달 외 1명

전자공학회논문지-D

1997 .12

Hot electron에 의한 CMOS 차동증폭기의 입력 offset 전압 모델링 ( Hot Electron Induced Input offset Voltage Modeling in CMOS Differential Amplifiers )

박종태

전자공학회논문지-A

1992 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07