Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of Hot Carrier Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 ( The Performance Degradation of CMOS Differential Amplifiers due to Hot Carrier Effects )

박현진 ,  유종근 ,  정운달 외 1명

전자공학회논문지-D

1997 .07

Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )

박현진 ,  장성준 ,  김형기 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

Hot Carrier에 의한 소자 노쇠화가 Current Mirror에 미치는 영향

윤상영 ,  이동기 ,  박상욱 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Hot-Carrier 현상에 의한 개별 소자의 노쇠화가 Current Mirror 회로에 미치는 영향

박상욱 ,  윤상영 ,  유동열 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of hot Electron Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하

윤병오 ,  장성준 ,  유종근 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하 ( Hot Carrier Effects on the Performance Degradation of Sense Amplifiers in DRAM )

윤병오 ,  장성준 ,  유종근 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1997 .01

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01