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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 1997.11
- 수록면
- 429 - 432 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (6)
1998
Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하 ( Hot Carrier Effects on the Performance Degradation of Sense Amplifiers in DRAM )
윤병오
,
장성준
,
유종근
외 2명
대한전자공학회 학술대회
1998.07
학술대회자료
Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하
윤병오
,
장성준
,
유종근
외 2명
대한전자공학회 학술대회
1998.06
학술대회자료
Hot Carrier Induced Performance Degradation of Latch Type Input Buffer in Memory Devices
윤병오
,
김현중
,
이병진
외 2명
대한전자공학회 학술대회
1998.01
학술대회자료
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목차
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하
Ⅲ. 소자열화와 링오실레이터의 주파수변화 상관관계
Ⅳ. 고주파수에서의 링 오실레이터 성능저하
Ⅴ. 결론
Ⅵ. 참고문헌
참고문헌 (0)
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Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
-
Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 ( The Performance Degradation of CMOS Differential Amplifiers due to Hot Carrier Effects )
전자공학회논문지-D
1997 .07
-
Hot Carrier 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of Hot Carrier Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )
한국통신학회 전문대학 논문지
1995 .01
-
Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
-
Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS
Journal of Electrical Engineering and Information Science
1998 .08
-
Hot - Carrier 현상에 의한 Folded - Cascode CMOS Op-Amp 의 성능 저하 ( The Performance Degradation of a Folded - Cascode CMOS Op-Amp due to Hot - Carrier Effects )
전자공학회논문지-D
1997 .12
-
Hot Carrier Degradation of MOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
-
Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS
Journal of Electrical Engineering and information Science
1998 .08
-
Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
-
Hot Carrier 현상에 의한 DRAM 감지증폭기의 성능저하 ( Hot Carrier Effects on the Performance Degradation of Sense Amplifiers in DRAM )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
-
Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하
전자공학회논문지-IE
2008 .12
-
Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )
전자공학회논문지
1988 .02
-
Tuning Analysis of a CMOS Current Controlled Ring Oscillator
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2006 .07
-
고속 CMOS 전압 제어 발진기 ( High Speed CMOS Voltage-Controlled Ring Oscillator )
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
-
고속 CMOS 전압 제어 발진기
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
-
Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )
전자공학회논문지-A
1994 .12
-
Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
-
A Ring Oscillator-based Temperature Sensor for U-Healthcare in 0.13μm CMOS
대한전자공학회 ISOCC
2009 .11
-
58.6 ~ 61.7㎓ 0.11μm CMOS 전압제어발진기의 연구
대한전자공학회 학술대회
2013 .07
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새로운 CMOS 전압-제어 발진기 ( A New CMOS Voltage-Controlled Oscillator )
전자공학회논문지
1988 .11
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