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이용수
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. GAA MOSFET 구조 및 측정
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌
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Hot Carrier Degradation of MOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )
전자공학회논문지
1988 .02
동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .07
동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .01
Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )
전자공학회논문지-D
1999 .05
Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하
전자공학회논문지-IE
2008 .12
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
Analysis on Capacitance Characteristics in FE-GAA MOSFET
대한전자공학회 학술대회
2019 .06
Inproved AC Hot Carrier Degradation of MOSFET's with Rapid Thermally NO-nitrided Gate Oxide
전기학회논문지
1996 .07
서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
핫 캐리어에 의한 GaAs HBT 의 새로운 열화 메카니즘 ( New Degradation Mechanism of GaAs HBT induced by Hot Carriers )
전자공학회논문지-D
1997 .11
Fabrication of Depletion Mode GaAs MOSFET
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
나노 기반 MOSFET 디바이스의 통계적 열화모형에 관한 연구
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2006 .11
게이트와 n ̄ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n  ̄ channel MOSFET with Gate - n ̄ S/D Overlapped Structure )
전자공학회논문지-A
1993 .02
A Computer Simulation of Suppression of Hot Carrier Degradation in Si MOSFETs Doped by Germanium
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses
전기학회논문지
1998 .03
Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성
대한전자공학회 학술대회
2008 .11
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