Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier에 의한 소자 노쇠화가 Current Mirror에 미치는 영향

윤상영 ,  이동기 ,  박상욱 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Hot-Carrier 현상에 의한 개별 소자의 노쇠화가 Current Mirror 회로에 미치는 영향

박상욱 ,  윤상영 ,  유동열 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )

박현진 ,  장성준 ,  김형기 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

Hot Carrier 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of Hot Carrier Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

소자열화로 인한 기억소자 주변회로의 성능저하 ( Hot Carrier Induced Performance Degradation of Peripheral Circuits in Memory Devices )

윤병오 ,  유종근 ,  장병건 외 1명

전자공학회논문지-D

1999 .07

0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1997 .01

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Deep Submicrometer PMOSFET의 Hot Carrier 현상과 소자 노쇠화 ( Hot Carrier Effects and Device Degradation in Deep Submicrometer PMOSFET )

장성준 ,  김용탁 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1996 .04

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06