Hot-Carrier 현상에 의한 개별 소자의 노쇠화가 Current Mirror 회로에 미치는 영향

박상욱 ,  윤상영 ,  유동열 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Current Mirror 내 개별 소자의 노쇠화와 회로 성능지수와의 관계에 관한 연구 ( A Study on the Relationship of Discrete Device Degradation with Circuit Performance in Current Mirror )

박상욱 ,  유동열 ,  김봉열

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Current Mirror 내 개별 소자의 노쇠화와 회로 성능지수와의 관계에 관한 연구

박상욱 ,  유동열 ,  김봉열

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Hot Carrier 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of Hot Carrier Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )

박현진 ,  장성준 ,  김형기 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

C.M.Y. Filter 및 Hot Mirror 개발

김구철 ,  박태경 ,  곽병두

광학세계

1995 .01

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Deep Submicrometer PMOSFET의 Hot Carrier 현상과 소자 노쇠화 ( Hot Carrier Effects and Device Degradation in Deep Submicrometer PMOSFET )

장성준 ,  김용탁 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1996 .04

MuGFET의 BTI와 hot carrier에 의한 소자 열화

이승민 ,  이동훈 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

2011 .12

개별 소자의 노쇠화에 따른 링 오실레이터의 지연 시간 모델링

서영철 ,  윤상영 ,  유동열 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구

김동욱 ,  유종근 ,  유현규 외 1명

전자공학회논문지-D

1998 .10

단위소자의 노쇠화가 링 오실레이터의 주파수 변화에 미치는 영향

이동기 ,  유동열 ,  박종태 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

단위소자의 노쇠화가 링 오실레이터의 주파수 변화에 미치는 영향 ( The Effect of Degradation of Descrete Device on the Frequency change of Ring Oscillator )

이동기 ,  유동열 ,  박종태 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향 ( The Impact of hot Electron Degradation on the Gain of CMOS Differential Amplifiers )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Electron에 의한 노쇠화가 CMOS 차동증폭기의 이득에 미치는 영향

홍성택 ,  유종근 ,  박종태 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11