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이용수
ABSTRACT
1. 序論
2. 薄膜의 成長과 特性測定
3. 成長條件이 薄膜特性에 미치는 影響
4. 熱的 安定性의 考察
5. 最適成長條件의 導出
6. 結論
REFERENCES
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SiH4/NH3/N2 및 SiH4/NH3/Ar 유량비율이 PECVD SiNx : H 박막의 특성에 미치는 영향 ( Effect of Flow Rate Ratios of SiH4/NH3/N2 and SiH4/NH3/Ar on the Properties of PECVD SiNx : H Films )
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1998 .01
Fabrication of Metal-insulator-metal Capacitors with SiNx Thin Films Deposited by Plasma-enhanced Chemical Vapor Deposition
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2009 .01
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2011 .01
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1996 .01
High Power, High Frequency PECVD 로 증착한 SiNx:H 반사방지막의 화학적 조성 및 광학적 특성 평가
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2009 .01
SiH₄/H₂ 혼합기체를 Multistep 방식으로 증착한 수소화된 실리콘 박막의 특성 연구
전기학회논문지
2014 .02
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