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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1999년도 봄 학술발표논문집 제26권 제1호(A)
발행연도
1999.4
수록면
9 - 11 (3page)

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본 논문에서는 내장된 이중-포트 메모리를 위한 효율적인 테스트 알고리듬을 제안하고 있다. 제안된 알고리듬은 기존의 멀티-퍼트 메모리 테스트 알고리듬들보다 빠르게 이중-포트 메모리를 테스트 할 수 있으며, 고착 고장, 천이 고장 및 결합 고장을 완벽하게 검출할 수 있다. ... 전체 초록 보기

목차

개요

1. 서론

2. 이중 - 포트 메모리 테스트 알고리듬

3. 성능 평가

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