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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.8
- 수록면
- 55 - 62 (8page)
이용수
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메모리 설계 기술과 공정 기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 전체 Systems-On-Chips(SoC)에서 내장메모리가 차지하는 비중은 점점 증가하여 전체 트랜지스터 수의 80%～90%를 차지하고 있어, SoC에서 내장된 이중 포트 메모리에 대한 테스트 중요성이 점점 증가하고 있다. 본 논문에서는 이중 포트 메모리를 위한 다양한 테스트 알고리즘을 지원하는 새로운 micro-code 기반의 programmable memory Built-In Self-Test(PMBIST) 구조를 제안한다. 또한 제안하는 알고리즘 명령어 구조는 March 기반 알고리즘과 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘 등의 다양한 알고리즘을 효과적으로 구현한다. PMBIST는 테스트 알고리즘을 최적화된 알고리즘 명령어를 사용하여 최소의 bit으로 구현할 수 있어 최적의 하드웨어 오버헤드를 가진다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 Programmable Memory BIST
Ⅲ. PMBIST 검증
Ⅳ. 성능평가
Ⅴ. 결론
참고문헌
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