내장된 이중 - 포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구

정남규 ,  한재천 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬

김지혜 ,  김홍식 ,  김상욱 외 4명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

내장된 이중 포트 메모리 테스트를 위한 CM2 테스트 알고리즘

양선웅 ,  장훈

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2001 .06

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

An Efficient BIST Architecture for Embedded Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 4명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

내장된 메모리를 위한 향상된 March 테스트 알고리듬의 설계 및 구현 ( Design and Implementation of Improved March Test Algorithm for Embedded Memories )

박강민 ,  장훈 ,  양승민

한국통신학회논문지

1997 .07

An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

[ETRI] ETRI Journal

2008 .08

이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬

박한원 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .03

An Optimal Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories

Youngkyu Pa ,  k ,  Myung-Hoon Yang 외 3명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

A New Test Algorithm for High - Density Memories

Dong-Chual Kang ,  Sang-Bock Cho

대한전자공학회 학술대회

2000 .11

이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST

박영규 ,  한태우 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2012 .08

저전력 내장형 시스템에서 플래쉬 메모리를 위한 효과적인 파일 시스템 설계

김중헌 ,  한상우

대한전기학회 학술대회 논문집

2007 .10

Embedded System의 효율적 TEST 방법에 대한 연구

김성근 ,  정기현

대한전자공학회 학술대회

2008 .06

복잡한 내장형 소프트웨어를 위한 테스트 모델 설계

이명호 ,  이상용 ,  장중순 외 3명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2004 .02

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

1-포트 측정을 기반으로 한 8-Term Error De-Embedding 기법

송민수 ,  김광호 ,  나완수

대한전기학회 학술대회 논문집

2015 .07

Testing High Density 3-D Memories

Kwang-Jin Lee ,  Cheol Kim ,  Suki Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2005 .10

내장형 소프트웨어의 효율적인 시험 환경 구축 방안

이동언 ,  송형곤 ,  진정훈 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

2019 .12