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논문 기본 정보

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저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제39권 제3호
발행연도
2002.3
수록면
20 - 33 (14page)

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현재 다양한 분야에서 이중 포트 메모리의 사용이 증가함에 따라서 이중 포트 메모리의 고장을 진단하기 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬의 필요성이 증대되고 있다. 따라서 본 논문에서는 이중 포트 메모리에서의 효율적인 고장 진단 알고리듬을 제시하여 이중 포트 메모리에서 발생하는 거의 모든 종류의 고장에 대한 진단을 가능하게 한다. 또한 진단 과정에서 착오를 일으키지 않고 다양한 고장 모델을 구별하며 고장과 관련된 위치를 정확하게 확인하는 것이 가능하다. 새로운 진단 알고리듬을 사용함으로서 이중 포트 메모리에서의 고장 진단 과정은 효과적으로 수행될 수 있으며 이전의 다른 연구들과의 성능 평가를 통해 효율성을 확인할 수 있다.

목차

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 고장 모델

Ⅲ. 진단 패턴

Ⅳ. 이중 포트 메모리의 고장 진단 알고리듬

Ⅴ. 성능 평가 비교 및 분석

Ⅵ. 결론

참고문헌

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