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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1997년도 봄 학술발표논문집 제24권 제1호(B)
발행연도
1997.4
수록면
449 - 452 (4page)

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본 논문에서는 내장된 메모리를 위한 효율적인 알고리듬을 제안하였다. 제안된 테스트 알고리듬은 고착 고장, 천이 고장, 결합 고장을 완전히 검출할 수 있으며, 기존의 March 테스트에서는 검출할 수 없었던 이웃패턴 감응 고장도 배경 데이터를 이용하여 검출할 수 있다. 또한 본 논문에서는 제안된 알고리듬을 수행할 수 있는 BIST 구조를 VHDL 패키지를 이용하여 실제로 구현하고 시뮬레이션을 수행하였다.

목차

요약

1. 서론

2. 메모리의 고장 모델

3. 기존의 메모리 테스트 알고리듬

4. 개선된 메모리 테스트 알고리듬

5. 제안된 BIST 회로의 설계

6. 결론

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