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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1997년도 가을 학술발표논문집 제24권 제2호(Ⅱ)
- 발행연도
- 1997.10
- 수록면
- 733 - 736 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (6)
1997
고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석
박종욱
,
박경택
,
조상욱
외 1명
한국정보과학회 학술발표논문집
1997.10
학술대회자료
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현 ( A Design of Improved Random Built-In Self Test for Resting of High Density Memory Chips )
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.07
학술대회자료
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.06
학술대회자료
1996
PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계
박종욱
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1996.11
학술대회자료
PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계 ( A Design of New Pseudo Random PAttern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
박종욱
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1996.11
학술대회자료
개선된 랜덤패턴 생성기를 이용한 고밀도 메모리 Built-In Self Test 회로의 설계 ( A New Pseudo Random Pattern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
박종욱
,
박성주
CAD 및 VLSI 설계연구회지
1996.01
학술저널
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일반적인 메모리테스트에 있어서 고장점검을 위한 테스트패턴의 생성방법으로는 각각의 고장모델에 대한 테스트패턴을 Deterministic하게 생성해주는 방법과 테스트패턴 생성기로서 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)를 이용하여 생성하는 방법 두 가지의 경우로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 PRPG를 사용하여 여러 가지 메모리의 결함을 대표한다고 볼 수 있는 Static 및 Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault(NPSF) 등 다양한 종류의 고장을 점검할 수 있도록 메모리 BIST를 상위수준 언어인 VHDL로 설계하고 합성하였다. 메모리 BIST를 위한 번지생성기로는 5셀 Tiling방법과 점진적 방법을 사용하여 각각 구현하고 이를 시뮬레이션 하여 기존의 Linear Feedback Shift Register(LFSR)보다 본 연구에서 패턴생성기로 사용한 LFSR의 메모리고장 점검도가 향상되었음을 보였다. 마지막으로 두 가지 번지생성 방법의 합성결과를 비교분석하여 메모리 크기에 따라 예상되는 메모리 BIST의 추가영역을 제시하였다.
목차
요약
1. 개요
2. NPSF 및 Randomly Inversed LFSR
3. 메모리 BIST 구현
4. 시뮬레이션 결과 및 추가영역
5. 결론 및 향후 연구계획
참고문헌
참고문헌 (0)
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다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
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다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석 ( An Analysis of Random Built - In Self Test Techniques with Various Addressing Techniques For High Density Memory Chips )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
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PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
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PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계 ( A Design of New Pseudo Random PAttern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
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고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현
대한전자공학회 학술대회
1997 .06
-
고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현 ( A Design of Improved Random Built-In Self Test for Resting of High Density Memory Chips )
대한전자공학회 학술대회
1997 .07
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내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석
대한전자공학회 학술대회
1999 .11
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반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )
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1992 .05
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