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저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1996년도 가을 학술발표논문집 제23권 제2호(A)
발행연도
1996.10
수록면
499 - 502 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

1997

가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계
박종욱 ,  박성주 정보과학회논문지(A) 1997.06 학술저널

1996

가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계
박종욱 ,  박성주 한국정보과학회 학술발표논문집 1996.10 학술대회자료

초록· 키워드

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메모리 테스트는 일반 논리회로와는 달리 각 고장모델에 따라서 일정한 갯수(최소 O(√n)에서 최대 O(n²))의 테스트패턴만이 필요하며, Gbit단위로 고밀도 고속화 되어가는 상황에 있어서 다양한 종류의 오점을 빠른속도로 점검하는 일은 더욱 더 중요한 문제로 부각되고 있다. Embedded 메모리 테스트를 위하여 Built-In Self Test(BIST) 기술이 널리 사용되고 있지만 고밀도 DRAM 테스트를 위해서는 BIST대신 테스터 장비를 통하여 deterministic하게 생성된 패턴을 이용하고 있다. 테스트 장비는 일종의 컴퓨터시스템으로서 다양한 메모리 테스트 알고리즘을 프로그래밍한 후 컴파일된 코드를 실행하여 테스트패턴, 번지 및 제어신호를 생성한 후 메모리칩에 주입하는 과정을 반복한다. 본 연구에서는 이러한 고가의 테스트 장비 대신 Weighted Random Pattern Test(WRPT) 생성기의 구현으로 일반적인 메모리 고장을 포함한 Static, Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault는 물론 모델링되지 않는 고장 및 timing 오점 등을 한 번에 점검토록하는데 목표를 둔다. 기존의 확률에 기인한 분석적인 방법과는 달리 고장시뮬레이션을 통하여 본 연구에서 제시하는 WRPT 생성기가 일반적인 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)보다 더 많은 오점을 점검할 수 있음을 보여준다.

목차

요약

1. 개요

2. 고장모델

3. 용어설명 및 테스트패턴 생성방법

4. WRPT에 의한 NPSF 테스트패턴 생성 방법

5. 실험결과

6. 결론 및 향후 연구

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박병찬 ,  장훈 한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집 2018 .07

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017898438