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이용수
요약
1. 서론
2. 내장된 자체 테스트 회로의 구현
3. 실험 방법 및 결과
4. 결론
5. 참고문헌
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내장된 자체 테스트를 위한 경계 주사 회로의 구현
한국정보과학회 학술발표논문집
1999 .04
단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법
한국정보과학회 학술발표논문집
1998 .10
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론
대한전자공학회 기타 간행물
2001 .11
VLSI 회로의 테스트 패턴 생성 기술
전자공학회지
1995 .12
순차회로의 테스트생성 기술
전자공학회지
1998 .11
내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조
전자공학회논문지-SD
2010 .08
혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST
전자공학회논문지-SD
2002 .08
패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법
전자공학회논문지-SD
2002 .07
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1993 .10
테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현 ( BIST implementation with test points insertion )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
VLSI 회로 테스트 자동 생성 시스템
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
테스트 에이전트 시스템 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1999 .04
내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소
전자공학회논문지-SD
2003 .07
내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )
전자공학회논문지-SD
2000 .06
디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
Self - Test가 용이한 CMOS 논리회로 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1990 .10
테스트 효율성을 고려한 개발 방법론의 재구성
한국정보과학회 학술발표논문집
2010 .11
패킷 필터링 보안 정책을 테스트하기 위한 테스트 베드 구축
한국정보과학회 학술발표논문집
2006 .06
RTL수준의 데이터패스 모듈을 위한 상위 수준 테스트 합성 기법
한국정보과학회 학술발표논문집
2000 .10
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