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본 논문에서는 파이프라인 구조를 갖는 부동소수점 DSP core를 효과적으로 테스트 할 수 있는 내장된 자체 테스트 회로를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 회로는 테스트 패턴을 생성하는 회로의 초기 값을 재인가할 수 있도록 설계함으로써 무작위 테스트 패턴에 의 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 서론

2. 내장된 자체 테스트 회로의 구현

3. 실험 방법 및 결과

4. 결론

5. 참고문헌

참고문헌 (0)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017961121