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이용수
1998
요약
1. 개요
2. 1149.1 바운다리스캔 과 연결선 점검
3. IEEE 바운다리스캔의 지연고장 점검에 대한 문제점
4. Update_DR 신호 변경에 의한 지연고장 점검
5. 지연고장 점검을 위한 패턴 생성
6. 결론 및 향후 연구계획
참고문헌
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지연고장 탐지를 위한 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .08
지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계 ( An Efficient IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for At-Speed Delay Testing )
전자공학회논문지-SD
2001 .10
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1993 .10
천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계
전자공학회논문지-SD
2007 .11
고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단
대한전기학회 학술대회 논문집
1999 .07
경로 활성화 방법을 이용한 고장 시뮬레이션
한국정보과학회 학술발표논문집
1988 .10
경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )
전자공학회논문지-A
1994 .11
Crosstalk과 정적 고장을 고려한 효과적인 연결선 테스트 알고리즘 및 BIST 구현
전자공학회논문지-SD
2005 .07
그라운드 바운스 영향과 지연고장을 위한 최소화된 테스트 패턴 생성 기법
전자공학회논문지-SD
2004 .11
고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘
전자공학회논문지-SD
2003 .04
고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법
전자공학회논문지-SD
2009 .03
고장물리기반의 고장분석
한국철도학회 학술발표대회논문집
2015 .05
Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴생성 알고리즘에 관한 연구
전자공학회논문지-SD
2007 .12
단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법
한국정보과학회 학술발표논문집
1998 .10
독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )
전자공학회논문지-SD
2001 .02
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
전자공학회논문지-SD
2000 .11
가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1996 .10
저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 설계
대한전자공학회 학술대회
2007 .05
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