고밀도 메모리 테스트를 위한 개선된 랜덤 BIST의 구현 ( A Design of Improved Random Built-In Self Test for Resting of High Density Memory Chips )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석

김태형 ,  윤수문 ,  김국환 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1999 .11

다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석

박경택 ,  박종욱 ,  조상욱 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

다양한 번지생성과 PRPG에 의한 메모리 BIST의 비교분석 ( An Analysis of Random Built - In Self Test Techniques with Various Addressing Techniques For High Density Memory Chips )

박경택 ,  박종욱 ,  조상욱 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

고밀도 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석

박종욱 ,  박경택 ,  조상욱 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

SoC 내장 메모리를 위한 ARM 프로세서 기반의 프로그래머블 BIST

이민호 ,  홍원기 ,  송좌희 외 1명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2008 .06

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

개선된 랜덤패턴 생성기를 이용한 고밀도 메모리 Built-In Self Test 회로의 설계 ( A New Pseudo Random Pattern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )

박종욱 ,  박성주

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1996 .01

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST

박영규 ,  한태우 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2012 .08

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories )

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

가중치 랜덤패턴을 이용한 고밀도 DRAM 테스트 생성회로의 설계

박종욱 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1996 .10

PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계

박종욱 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

PRPG를 이용한 고밀도 메모리 BIST 패턴생성기의 설계 ( A Design of New Pseudo Random PAttern Generator for High Density Memory Built-In Self Test )

박종욱 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1996 .11