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N2O 산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 전기적 및 신뢰성 특성 ( Electrical and Reliability properties of MOS Capacitors with N2O oxides )
전자공학회논문지-A
1994 .06
산화막 및 재산화질화산화막을 적용한 MOSFET의 성능저하 특성 ( Degradation of A MOSFET to Apply Oxide and Reoxidized-Nirided-Oxide to A Gate Dielectric )
대한전자공학회 학술대회
1990 .01
재산화된 질화 산화막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 특성 ( The Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate Dielectrics )
전자공학회논문지-A
1991 .09
자기 정렬된 Mo2N/Mo 게이트 MOSFET의 제조 및 특성 ( Fabrication of Self-Aligned Mo2N/Mo-Gate MOSFET and Its Characteristics )
전자공학회지
1984 .11
자기 정렬된 Mo2N / Mo 게이트 MOSFET의 제조 및 특성 ( Fabrication of Self-Aligned Mo2N / Mo-Gate MOSFET and Its Characteristics )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
ONO 박막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate-Dielectrics )
대한전자공학회 학술대회
1991 .01
금속열처리법에 의한 재산화질화산화막 ( Reoxidized-Nitrided-Oxide Film Formed by Rapid Thermal Processing )
대한전자공학회 학술대회
1989 .01
MOSFET에서 Gate Oxide층의 교류 절연파괴 특성
대한전기학회 학술대회 논문집
1999 .11
An Analytical Model for the Effect of Graded Gate Oxide in MOSFET`s
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
시뮬레이션을 통한 MOSFET 산화막 내부트랩의 영향 비교분석
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
전력 MOSFET
전기의세계
1985 .05
Buried-Oxide MOSFET 제작 ( Fabrication of a Buried-Oxide Mosfet )
대한전자공학회 학술대회
1983 .01
연속적 급속열처리법에 의한 재산화질화산화막의 특성 ( Characteristics of Reoxidized-Nitrided-Oxide Films Prepared by Sequential Rapid Thermal Oxidation and Nitridation )
전자공학회논문지
1990 .05
동작속도가 빠른 Mo2N/Mo 게이트 MOS 집적회로 ( High Speed Mo2N/Mo-Gate MOS Integrated Circuit )
전자공학회지
1985 .07
Measurement of Interface Trapped Charge Densities (Dit) in 6H-SiC MOS Capacitors
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
2004 .08
전력 MOSFET 소자의 γ선 영향
제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집
2004 .11
비대칭 MOSFET 소자에서 gate oxide의 re-oxidation process의 공정방법 및 효과
대한전자공학회 학술대회
2012 .06
급속 열처리 공정에 의한 초박막 재산화 질화산화막의 유전 특성 ( Dielectrical Characteristics of Ultrathin Reoxidized Nitrided Oxides by Rapid Thermal Process )
한국통신학회논문지
1991 .11
전력 MOSFET
전기의세계
1988 .05
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