ONO 박막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate-Dielectrics )

조성천 ,  양광선 ,  박훈수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1991 .01

산화막 및 재산화질화산화막을 적용한 MOSFET의 성능저하 특성 ( Degradation of A MOSFET to Apply Oxide and Reoxidized-Nirided-Oxide to A Gate Dielectric )

노태문 ,  이경수 ,  남기수

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

산화막 및 재산화질화산화막의 MOS 캐패시터와 MOSFET의 신뢰성 ( Reliability of MOS Capacitors and MOSFET`s with Oxide and Reoxidized-Nitrided-Oxide as Gate Insulators )

노태문 ,  이경수 ,  유병곤 외 1명

전자공학회논문지-A

1993 .11

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화

이재성 ,  이원규

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

Dynamic characteristics for Double Gate MOSFET

고석웅 ,  정학기

한국정보통신학회논문지

2005 .12

Al2O3 절연막을 게이트 절연막으로 이용한 공핍형 n-채널 GaAs MOSFET의 제조 ( Fabrication of a depletion mode n-channel GaAs MOSFET using Al2O3 as a gate insulator )

전본근 ,  이석헌 ,  이정희 외 1명

전자공학회논문지-SD

2000 .01

차세대 sub-0.1μm급 MOSFET 소자용 고유전율 게이트 박막

황현상

대한전자공학회 학술대회

2000 .06

Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

초고속 동작을 위한 더블 게이트 MOSFET 특성 분석

정학기 ,  김재홍

한국정보통신학회논문지

2003 .04

A simulation model for reliability prediction of progressive breakdown in ultra-thin gate oxides

Seong-joon Kim ,  Man Soo Kim ,  Suk joo Bae

한국신뢰성학회 학술대회논문집

2019 .10

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

전력 MOSFET용 멀티 게이트 구동 회로 연구

김기현 ,  김형우 ,  이경호 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2017 .07

P-채널 MOSFET에서 게이트와 기판 전류의 시간에 따른 복원 특성

조상운 ,  장원수 ,  배지철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

MOSFET에서 Gate Oxide층의 교류 절연파괴 특성

박정구 ,  송정우 ,  고시현 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

I 형 게이트 내방사선 n-MOSFET 구조 설계 및 특성분석

이민웅 ,  조성익 ,  이남호 외 2명

한국정보통신학회논문지

2016 .10

An Analytical Model for the Effect of Graded Gate Oxide in MOSFET`s

김종식 ,  서광석

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

이중 확산 MOSFET의 C-V 특성

배동건 ,  정상구 ,  최한묵 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

이중 확산 MOSFET의 C-V특성 ( C-V Characteristics of Double diffused MOSFET )

최한묵 ,  배동건 ,  정상구 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

게이트전압에 따른 나노구조 이중게이트 MOSFET의 터널링전류 변화

정학기

한국정보통신학회논문지

2007 .05

전력 MOSFET 소자의 γ선 영향

손주형 ,  김재환 ,  노영환

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2004 .11