메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
조수억 (Seoil University) 송성근 (KETI)
저널정보
한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제35권 제2호
발행연도
2021.2
수록면
31 - 35 (5page)
DOI
10.5207/JIEIE.2021.35.2.031

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
The device (IGBT) of the power converter for the voltage type HVDC MMC is mostly used for the high voltage 4500 [V] IGBT. The lifetime and reliability of IGBTs used in MMC (Modular Converter) is important. However, the power loss related parameters provided by the power semiconductor manufacturers are limited to specific temperature conditions. This results in an error between the simulation value and the measured value.
To verify this, the power loss of the power semiconductor was calculated under the conditions of use, the temperature change of the junction and case was simulated, and the power electronics (IGBT) was opened and measured with an infrared thermal camera to compare the simulated value with the measured value.

목차

Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References

참고문헌 (6)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2021-565-001481536