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학술저널
저자정보
이철우 (건국대학교) 강철구 (건국대학교)
저널정보
제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 제어로봇시스템학회 논문지 제24권 제7호
발행연도
2018.7
수록면
632 - 638 (7page)
DOI
10.5302/J.ICROS.2018.18.0014

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Recently, the use of IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistors) has been rapidly increasing as the eco-friendly semiconductor technology has been developed for green growth. IGBTs have advantages of high-speed switching and power loss minimization at high voltage and current. However, the high heat generation of IGBTs frequently causes the reliability problem. The high temperatures of IGBTs result in heat and mechanical stresses, which can introduce cracks and fractures. Therefore, it is important to predict the lifetime to guarantee the reliability of an IGBT module. The conventional lifetime prediction method of the IGBT module is complex and has time-consuming computations. In this paper, we introduce a convenient IGBT lifetime prediction method to reduce the computational time by simplifying the lifetime prediction processes of the IGBT module.

목차

Abstract
I. 서론
II. 기존 수명 해석 방법
III. 간소화 수명 예측 방법
IV. 프로그램 검증
V. 결론
REFERENCES

참고문헌 (21)

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