지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
이용수
등록된 정보가 없습니다.
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
Hot Carrier Reliability of Short Channel ($L=1.5{\mu}m$) P-type Low Temperature poly-Si TFT
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2008 .01
Drain induced barrier lowering and impact ionization effects in short channel polysilicon TFTs
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2008 .01
p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )
전자공학회논문지-A
1994 .12
Hot Carrier Degradation of MOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
Characteristics of Low-Temperature Polysilicon Thin Film Transistors
한국재료학회지
1995 .01
Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
Degradation of High Performance Short Channel N-type Poly-Si TFT under the Electrical Bias Caused by Self-Heating
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2007 .01
A Comparative Study of Hot-Carrier Related Phenomena in P and N type Polysilicon Gate PMOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하
전자공학회논문지-IE
2008 .12
Effects of $H_2$ vs. $O_2$ Plasma Pretreatment of Gate Oxide on the Degradation Phenomenon of Low-Temperature Polysilicon Thin-Film Transistors
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2004 .01
Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
Gate 구동 회로를 집적한 TFT-LCD에서 a-Si:H TFT Instability의 영향
대한전기학회 학술대회 논문집
2005 .11
Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
Reliability Aging of Oxide Integrity on Low Temperature Polycrystalline Silicon TFTs
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2002 .01
Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
Analysis of transport properties of SLS polysilicon TFTs
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2006 .01
Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
0