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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2019.11
- 수록면
- 46 - 50 (5page)
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In this paper, we studied the accuracy of TLP measurement technique for ESD devices. We have used TLP for the measurement of the ESD devices and changed the measurement window to verify optimal measurement accuracy. As a result, the measured value is constant even if the measurement window is changed from 26 to 95ns for the chip resistance, while the ESD device shows the most accurate value at the 65 ~ 95ns measurement window.
목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
참고문헌
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