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정진우 (한국전자통신연구원) 김상기 (한국전자통신연구원) 구진근 (한국전자통신연구원) 노태문 (한국전자통신연구원) 박건식 (한국전자통신연구원) 원종일 (한국전자통신연구원) 조두형 (한국전자통신연구원) 유성욱 (한국전자통신연구원) 구용서 (단국대학교) 박종문 (한국전자통신연구원)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2016년도 대한전자공학회 정기총회 및 추계학술대회
발행연도
2016.11
수록면
200 - 203 (4page)

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Electrostatic discharge (ESD) damage has become the main reliability issue for deep-submicron CMOS integrated circuit. This paper presents comparisons of ESD protection circuits using low trigger techniques in a 0.13 um CMOS process, Transmission line pulse (TLP) and human body model (HBM) results support the findings presented in this paper.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안된 ESD 보호회로
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
참고문헌

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