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학술저널
저자정보
Jawad Yousaf (Sungkyunkwan University) Hosang Lee (Sungkyunkwan University) Wansoo Nah (Sungkyunkwan University)
저널정보
대한전기학회 Journal of Electrical Engineering & Technology Journal of Electrical Engineering & Technology Vol.13 No.5
발행연도
2018.9
수록면
2,033 - 2,044 (12page)

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This study presents states-of-the art overview of the system level electrostatic discharge (ESD) analysis and testing. After brief description of ESD compliance standards and ESD coupling mechanisms, the study provides an in-depth review and comparison of the various techniques for the system level ESD coupling analysis using time and frequency domain techniques, full wave electromagnetic modeling and hybrid modeling. The methods used for improving system level ESD testing using troubleshooting and determining the root causes of soft failures, the optimization of ESD testing and the countermeasures to mitigate ESD problems are also discussed.
#Electrostatic Discharge (ESD) #System level ESD testing #IEC 61000-4-2 #ESD coupling #ESD generator #ESD source modeling #Circuit modeling #3D modeling #S-Parameters #Frequency domain #Hybrid simulation #ESD measurements

목차

Abstract
1. Introduction
2. ESD Compliance Standards
3. ESD Coupling Mechanisms
4. System Level ESD Coupling Analysis Methods
5. Improvement of System Level ESD Testing
6. Conclusion
References

참고문헌 (64)

참고문헌 신청
C. Duvvury and H. Gossner, System Level ESD Co-Design. United Kingdom: Wiley-IEEE Press, 2015. P. Intra, A. Yawootti, U. Vinitketkumnuen, and N. Tippayawong, “Investigation on the electrical discharge characteristics of a unipolar corona-wire aerosol charger,” Journal of Electrical Engineering and Technology, vol. 6, no. 4, pp. 556-562, 2011. J. Yousaf, J. Shin, K. Kim, J. Youn, D. Lee, C. Hwang, and W. Nah, “System level esd coupling analysis using coupling transfer impedance function,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 60, no. 2, pp. 310-321, April 2018. J. Yousaf, M. Park, H. Lee, J. Youn, D. Lee, C. Hwang, and W. Nah, “Efficient circuit and an em model of an electrostatic discharge generator,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 60, no. 4, pp. 1078-1086, Aug 2018. K. Wang, D. Pommerenke, J. M. Zhang, and R. Chundru, “The pcb level esd immunity study by using 3 dimension esd scan system,” in 2004 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, vol. 2, Silicon Valley, CA, USA, Aug 9-13 Aug 2004, pp. 343-348.

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