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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김창조 (인하대학교) 최윤 (아텍시스템) 신백균 (인하대학교) 박구범 (유한대학) 신현용 (남서울대학교) 이붕주 (남서울대학교)
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제19권 제2호
발행연도
2010.3
수록면
148 - 154 (7page)

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본 논문에서는 유기발광다이오드의 보호막 적용을 위하여 TCP-CVD를 이용한 실리콘 산화막 형성에서 산화막의 특성에 영향을 미치는 Power, 가스종류 및 유량, 소스와 기판거리 및 공정온도 등의 공정조건에 따른 증착된 산화막의 특성을 나타내는 증착률, 굴절률을 제어하고자 한다. 그 결과 SiH₄ : O₂ = 30 : 60 [sc㎝], 70 [㎜]의 source와 기판 거리, Bias를 인가하지 않은 조건에서 80 [℃] 이하의 공정온도를 보였으며 투과율 90% 이상, 높은 증착률 및 굴절률 1.4∼1.5인 안정된 SiO₂ 산화박막을 제조할 수 있었다.

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험
Ⅲ. 실험 결과
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (9)

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