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한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제8권 제3호
발행연도
2007.6
수록면
437 - 443 (7page)

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본 논문에서는 임베디드 프로세서 및 네트워크 구조를 기반으로 구성된 NoC(Network-On-Chip)의 저전력 테스트 구조를 제안한다. 임베디드 프로세서와 여러개의 코어로 구성된 네트워크 구조에 벤치마크 회로를 직접 연결하여 테스트 전력소모를 평가하였으며, 각 코어의 테스트 패턴을 저전력 소모가 되도록 매핑하여 테스트 전력소모를 감 소시켰다. 또한 임베디드 프로세스 코어를 ATE(Automatic Test Equipment)로 사용하여 테스트 시간을 줄일 수 있었다. ISCAS89 벤치마크 회로에 대해서 테스트 시간은 매우 효과적으로 감소되었으며 평균 전력소모는 약 8%가 감소되었다.

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