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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제41권 제12호
발행연도
2004.12
수록면
83 - 90 (8page)

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본 논문은 SOC 의 테스트 데이터 압축과 전력소비를 단축시키기 위한 효율적인 스캔 테스트 방법을 제안한다. 제안된 테스트 방법은 detemnrushc 테스트 데이터와 그 출력응답을 분석하여 출력응답의 일부분이 차기에 입력될 테스트 데이터로 재사용될 수 있는지를 결정한다. 실험결과, 비압축된 deterministic 입력 테스트 데이터와 그 응답 간에 높은 유사도가 있음을 알 수 있다. 제안된 테스트 방법은 ISCAS'89 벤치마크 회로를 대상으로 소요되는 클럭 시간을 기준으로 평균 29.4% 의 전력소비 단축과 697% 의 테스트 데이터 압축을 가져온다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 유사도와 통합벡터생성

Ⅲ. 제안된 재정렬 알고리듬과 스캔 아키텍처

Ⅳ. 압축과 전력감소 방법

Ⅴ. 시뮬레이션 및 결과

Ⅵ. 결론

참고문헌

저자소개

참고문헌 (18)

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[학술지(정기간행물)] - Yamaguchi, T / 1997. / An efficient method for compressing test data : 191 ~ 197 google schola [학술지(정기간행물)] - Jas, A / 1999. / Scan vector compression/decompression using stati -stical coding : 114 ~ 120 google schola [학술지(정기간행물)] - Chandra, A., / 2000. / Test data compression for system-on-a-chip using Golomb codes : 113 ~ 120 google schola [학술지(정기간행물)] - A. Chandra / 2001. / Combining low -power scan testing and test data compression for system-on-a-chip : 166 ~ 169 google schola [학술지(정기간행물)] - Chandra A / 2001. / Frequency -directed run-length codes with application to system-on-a-chip test data compression : 42 ~ 47 google schola

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-014435393