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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2016.11
- 수록면
- 58 - 61 (4page)
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According to increase of the electronic system"s operating speed, its measurement has been also becoming more difficult. When DUT is measured, the probe tip is used for small size DUT. But probe tip is not proper to measure with a force because it is mechanically weak. This paper suggests improved method for the small DUT measurement using high frequency connector.
목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
참고문헌
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